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參考 溫度/濕度范圍 內(nèi)部尺寸(WxHxD)mm 產(chǎn)品數(shù)據(jù)表 說明書
參考 描述
介紹 IXRF專注于精確地微區(qū)痕量元素分析產(chǎn)品,包括齊全的能譜儀(EDS)和X射線熒光(XRF)
硬件 作為一款臺式XRF,Atlas-M型號的體積為890×560×560mm,具有較大的樣品倉體積,相對應的是較大的樣品臺行程以及最重的載重量,而與此同時,卻可以將樣品臺的移動速度提升到300mm/s,移動精度≤1μm。 其采用的毛細管聚焦技術,可將束斑縮至5μm,另外也可通過選用準直器等配件,使束斑在5μm—1000μm之間的范圍內(nèi)可調(diào);其多大8片的濾波片選擇,可滿足更多的分析需求。
軟件 作為曾因其軟件研發(fā)能力而獲得英國政府頒發(fā)的千禧年大獎的公司,IXRF在Atlas操作軟件的開發(fā)上沿襲了其一貫的專業(yè)性及開放性。在數(shù)據(jù)的獲取及處理上,可實現(xiàn)數(shù)據(jù)的一鍵采集,或自動或手動的鑒別樣品成分,并利用FP建模或quantitative match等功能實現(xiàn)樣品成分的定量分析;在圖像處理方面,不僅可對獲取的圖像進行拼接,還可實現(xiàn)相分析、特征顆粒篩選、特征顆粒形態(tài)學上的測量及成分分析等功能;在面分布及線掃描方面,可同時獲得多達35種元素的信息,并且實現(xiàn)單像素的譜圖數(shù)據(jù)采集,并可完全保存下來,后續(xù)仍可繼續(xù)對此數(shù)據(jù)進行點線面等處理。
應用 可在各種環(huán)境,如大氣、真空以及氦氣等氣氛下分析多種類的樣品,無論是固體、液體、顆粒、粉末,樣品大小,拋光與否,表面粗糙與否皆可輕松勝任,且實現(xiàn)無損分析。
特點 束斑尺寸最小可達5μm;大樣品臺行程(320×320×120mm),移動速度可達300mm/s;多達8片的濾波片選擇;
用途 地礦文博; 電子器件; 刑偵醫(yī)學; 醫(yī)藥檢測; 環(huán)境監(jiān)測。
參考 描述
樣品類型 固、液、顆粒、粉末
測試介質(zhì) 空氣、真空、氦氣
激發(fā)源 12-50W,0-50kV,200 μA-1mA
元素分析范圍 Na-U
樣品臺 X、Y、Z三軸可動,320x320mm可移動范圍,載重10Kg
Mapping最大尺寸 220x200mm
樣品移動速度 300mm/s
探測器 SDD
分辨率 135-145ev
活區(qū)面積 50-150mm2
靶材 銠(其他可選)
束班尺寸 5m-1000 μm連續(xù)可調(diào)
濾片 8片

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